GB/Z 21738-2008 一维纳米材料的基本结构 高分辨透射电子显微镜检测方法
作者:标准资料网 时间:2024-05-13 20:34:39 浏览:8791
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基本信息
| 标准名称： | 一维纳米材料的基本结构 高分辨透射电子显微镜检测方法 |
| 英文名称： | Fundamental structures of one dimensional nanomaterials - High resolution electron microscopy characterization |
| 中标分类： | 仪器、仪表 >> 光学仪器 >> 光学仪器综合 |
| ICS分类： | 计量学和测量、物理现象 >> 光学和光学测量 >> 光学和光学测量综合 |
| 发布部门： | 中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局 中国国家标准化管理委员会 |
| 发布日期： | 2008-05-08 |
| 实施日期： | 2008-11-01 |
| 首发日期： | 2008-05-08 |
| 作废日期： | |
| 主管部门： | 中国科学院 |
| 提出单位： | 全国纳米技术标准化技术委员会纳米材料分技术委员会 |
| 归口单位： | 全国纳米技术标准化技术委员会纳米材料分技术委员会 |
| 起草单位： | 中国科学院物理研究所电子显微镜实验室 |
| 起草人： | 李建奇 |
| 出版社： | 中国标准出版社 |
| 出版日期： | 2008-07-01 |
| 页数： | 8页 |
| 计划单号： | 20068679-T-491 |
| 书号： | 155066·1-32216 |
适用范围
本指导性技术文件规定了采用高分辨透射电子显微镜检测纳米材料中一维或准一维纳米材料的原理、术语及定义、仪器和设备、样品制备、测量程序、结果表示和试验报告等内容。
本指导性技术文件适用于测量一维或准一维纳米材料的基本结构（形貌、排列情况、大小线度的分布、晶化情况、生长取向关系），元素组分、截面及界面原子排布等。
前言
没有内容
目录
没有内容
引用标准
下列文件中的条款通过本指导性技术文件的引用而成为本指导性技术文件的条款。凡是注日期的引用文件,其随后所有的修改单(不包括勘误的内容)或修订版均不适用于本指导性技术文件,然而,鼓励根据本指导性技术文件达成协议的各方研究是否可使用这些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件,其最新版本适用于本指导性技术文件。
GB/T19619 纳米材料术语
所属分类： 仪器 仪表 光学仪器 光学仪器综合 计量学和测量 物理现象 光学和光学测量 光学和光学测量综合
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