EN 60749-31-2003 半导体器件.机械和气候试验方法.第31部分:塑料封装器件的易燃性(内部引起的)

作者:标准资料网 时间:2024-05-17 20:00:21  浏览:8599   来源:标准资料网

【英文标准名称】:Semiconductordevices-Mechanicalandclimatictestmethods-Part31:Flammabilityofplasticencapsulateddevices(internallyinduced)(IEC60749-31:2002+Corr.1:2003);GermanversionEN60749-31:2003
【原文标准名称】:半导体器件.机械和气候试验方法.第31部分:塑料封装器件的易燃性(内部引起的)
【标准号】:EN60749-31-2003
【标准状态】:现行
【国别】:
【发布日期】:2003-12
【实施或试行日期】:2003-12-01
【发布单位】:欧洲标准学会(EN)
【起草单位】:
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:半导体;热学;集成电路;外观检查(试验);半导体器件;温度变化;气候试验;可燃性;试验;电子工程;电气工程;环境试验;机械试验;电子设备及元件;电学测量;耐力;元部件;易燃性
【英文主题词】:Changesoftemperature;Climatictests;Components;Electricalengineering;Electricalmeasurement;Electronicengineering;Electronicequipmentandcomponents;Environmentaltesting;Environmentaltests;Flammability;Heat;Inflammability;Integratedcircuits;Mechanicaltesting;Resistance;Semiconductordevices;Semiconductors;Testing;Visualinspection(testing)
【摘要】:
【中国标准分类号】:L40
【国际标准分类号】:13_220_40;31_080_01
【页数】:5P.;A4
【正文语种】:英语